波譜儀和能譜儀的區別

　能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。

產生一個空穴對的**平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。

利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈沖，電流脈沖的高度取決于N的大小。電流脈沖經過主放大器轉換成電壓脈沖進入多道脈沖高度分析器百科，脈沖高度分析器按高度把脈沖分類進行計數，這樣就可以描出一張X射線按能量大小分布的圖譜。波譜儀是利用波譜法對物質的成分和結構進行分析的儀器，包括X射線波譜儀，核磁共振波譜儀等。能譜儀具有分析速度快，靈敏度高，譜線重復性好的有點;也具有能量分辨率低、峰背比低，要求嚴格的缺點。

波譜儀的優點是波長分辨率高，但由于結構特點，波譜儀想要有足夠的色散率，其聚焦圓的半徑就要足夠大，而這會導致X射線光量子的收集率降低。

EDS、EDX和EDXRF有什么區別

一、EDS是利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析，EDX是借助于分析試樣發出的元素特征X射線波長和強度實現的，這兩者的結構完全不同。
EDS能量色散譜儀，按能量展譜，主要器件為Li-Si半導體探測器.主要利用X光量子的能量不同來進行元素分析。

EDX：Energy Dispersive?X-Ray?Fluoresence Spectrometer 能量色散X射線光譜儀。

兩者聯系：都是一種測試儀器。
二、ED-XRF是EDX的一種，ED-XRF即能量色散型X射線熒光光譜儀。
X射線熒光光譜儀是基于偏振能量色散X熒光光譜儀（ED－XRF）的分析方法。X射線管或放射性同位素源中發出的X射線激發固體、液體、粉末樣品中的原子。

擴展資料：
EDS英文全稱：Energy Dispersive Spectroscopy
原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析。
與WDS（波譜儀）相比，EDS（能譜儀）具有以下優缺點：
優點:
（1）能譜儀探測X射線的效率高。
（2）在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。

（3）結構簡單，穩定性和重現性都很好。
（4）不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
缺點：
（1）分辨率低.
（2）能譜儀只能分析原子序數大于11的元素;而波譜儀可測定原子序數從4到92間的所有元素。

（3）能譜儀的Si(Li)探頭必須保持在低溫態，因此必須時時用液氮冷卻。

波譜儀和能譜儀工作原理是什么？

波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。
而能譜儀以快速分析見長。

但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。

根據具體問題類型，進行步驟拆解／原因原理分析／內容拓展等。

材料學院的的問題：：：：波譜儀和能譜儀工作原理?。?！求解答 謝謝

能譜儀（EDS）是用較細聚集的高能電子束照射樣品表面所需分析的微區，激發出物質的特征X射線，其能量決定于組成該物質的元素種類，其強度決定元素的含量，能譜儀用半導體探測器檢測X射線的能量并按其大小展譜，根據能量大小確定產生該能量特征X射線的元素。波譜儀（WDS）是用細聚集的高能量電子束照射樣品表面所需的分析微區，激發出物質的特征X射線，其波長決定組成該物質的元素種類，其強度決定于元素的含量，波譜儀根據晶體對X射線的衍射效應，利用已知面間距的分光晶體據不同波長的X射線按衍射角展譜，根據角度，由布拉格方程計算出X射線波長，確定產生該波長特征X射線的元素。